使用 XDS近红外光谱固体分析仪可对每个片剂进行非破坏性分析

AN-NIR-002

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该应用说明展示了 近红外光谱作为适用于固体剂型的一种快速（< 30 s）非破坏性测定工具的潜力。NIRS 既不需要进行样品准备，也不需要使用任何溶剂。因散射而导致的干扰，也可通过采用光谱二阶导数的方式来消除。