İstenen sayfanın yerel versiyonuna yönlendirildiniz

BWT-4902

Raman Analysis of Si Crytallinity


Summary

Raman spectroscopy at 532 nm excitation is used to study the crystalline and amorphous content of mixed phase silicon films.

İletişim

Metrohm Turkey

Ayazağa Mah. Azerbaycan Cad. No. 3I
34396 İstanbul

İletişim