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Produção de semicondutores

01/05/2023

Notícias

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Visão geral dos métodos analíticos para monitorar parâmetros críticos de qualidade

A Metrohm tem o prazer de apresentar uma visão geral gratuita dos métodos analíticos usados para monitorar parâmetros críticos de CQ na produção de semicondutores.

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A Metrohm tem o prazer de apresentar uma visão geral gratuita dos métodos analíticos usados para monitorar parâmetros críticos de CQ na produção de semicondutores.

Os métodos apresentados nesta visão geral são usados para monitorar a pureza da água, ácidos em banhos de ataque químico, concentração de sais metálicos em banhos de galvanização e impurezas iônicas. Hiperlinks para diversas notas de aplicação e vários white papers estão incorporados neste documento, disponibilizando informações detalhadas sobre a maioria dessas aplicações com um único clique do mouse.

Para facilitar o acesso, os métodos são estruturados de acordo com as diferentes etapas do processo de fabricação, desde o monitoramento da pureza das matérias-primas até a gravação, galvanização, embalagem em nível de wafer, encapsulamento e laminação de PCBs e, finalmente, monitoramento da recuperação de produtos químicos e tratamento de águas residuais.

Baixe o folheto: Produção de semicondutores (8.0005454, PDF, 835 KB)