Probennadel aus Zirkoniumoxid mit PEEK-Spitze
6.2846.010
Probennadel aus Zirkoniumoxid mit PEEK-Spitze
de
6.2846.010
Inhalt
Probennadel für Sample Processoren und Autosampler in der Ionenchromatographie. Die PEEK-Spitze garantiert ein sicheres Durchstechen der Vial-Abdeckung.
Technische Daten
| Aussendurchmesser (Zoll) | 1/8 |
|---|---|
| Länge (mm) | 151 |
-
- Nadelhalter 1/8 in.
- 6.2833.000
- Für IC/VA Sample Processors. Für 1/8 in. Kanülen
- Für IC/VA Sample Processors. Für 1/8 in. Kanülen
- STK
- 1